相控陣探傷儀優勢有哪些？

相控陣探傷儀可以單獨控製每個晶片在相控陣探頭上的激發時間，從而控製產生波束的角度，聚焦位置和聚焦大小。

相控陣探傷儀優勢有哪些？

1.實時彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，使缺陷易於判讀，不會對缺陷進行誤判或漏判；

2.相控陣探傷儀可實現線性掃描、扇形掃描和動態深度掃描，因而具有寬波束和多焦點的特點，因而能夠快速、準確地檢測；

3.相控陣探傷儀具有很高的檢測靈活性，能夠實現其他常規檢測技術無法實現的功能，比如對複雜工件進行檢測；

4.易於檢測各種方向、不同位置的缺陷，缺陷檢出率高，檢測範圍廣，定量、定位精度高；

5.相控陣探傷儀結構簡單，操作和維護方便，使用方便，對人體無傷害，對環境無汙染；

6.檢測結果受人為因素影響小，數據易於存儲、管理和調用，並可聯機打印查看。亦可直接連接鼠標進行操作。

7.能節約不少成本，一個探頭和多個楔形角的用途，可自動生成圖文缺陷報告，若有內部網絡可直接發送質檢報告到數據中心查詢。

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